测试芯片性能参数是确保芯片在设计和应用中能够满足要求的重要步骤。由于芯片类型的多样性以及测试需求的多样性,测试方法会有所不同。在这里,我们将讨论一些通用的测试方法。
新德里,印度 - 美国半导体制造巨头美光科技,近日宣布计划在印度设立更多的半导体组装、测试、标记和封装(ATMP)工厂,此举在全球半导体产业中引起广泛关注。
光数字继电保护测试仪是一种专门为保护及自动化装置提供完整测试方案的设备。这种测试仪可以满足现代电力系统对继电保护的高标准要求,能够模拟各种复杂的电力系统故障情况,并测试保护装置的性能。
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